二维高分辨小角X射线散射原位表征平台

技术指标

1.高亮度微焦点光源，焦斑（直径）：30um

2.样品光斑大小：0.15-1.5 mm，最大通量：5.0×10⁸ phs/s

3. 光路的真空度：1 mbar；

4.金属样品腔容量：80升；

5.多自由度掠入射GiSAXS样品台

a）掠入射角：Omega轴旋转范围：-3°～+5°，精度：0.002°；

b）样品倾角：绕Y轴旋转范围：±3°，精度：0.002°；

c）样品沿法线自转：Phi轴 (Z轴方向）旋转范围：±91°，精度：0.001°

6. 高温台：室温～1500℃；

7. 拉伸样品台

荷载范围：0-200N； 拉伸速度范围：1-5000 um/s；变温范围：-150℃～250℃；移动行程：85um；

8. 低噪音流动样品池：最小容量10uL，10个低散射窗

9. 掠入射小角/广角/超小角二维探测器

a)二维硅阵列单光子计数探测器；最大计数率：3.6×10⁸ phs/s/mm²；像素大小：75×75 微米；量子效率：98 %（Cu Ka）；单个探测器的工作面积：75×38 mm²；

b) 探测器到样品的最大距离：50-4500 mm；

c) 二维小角可测散射矢量q：0.01-49 nm^-1

d) 颗粒和孔隙的尺寸大小：1nm至几个μm

主要应用

1. 微纳颗粒和孔隙表征；

2. 多相体系分析；

3. 表面和界面结构研究；

4. 变温和拉伸实时原位表征；

5. 聚合物和生物材料研究